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The Elements of Statistical Leaming Data Mining, Inference, and Prediction.
OCWの電子計測関連
ティール・スモール パラメーターの主なシンボル
琉球大学理学部講義「物理数学 IJー ベクトル・行内と線形代数 ー前野昌弘
Merrill Skolnik, "Introduction to Radar Systems" (McGraw-Hill)
Semiconductor Junctions, TU Delft
【半導体工学】キャリア濃度(電子濃度・正孔濃度)Youtube動画講義ノートチャンネル「数学・物理・化学」
Donald Peter, Seattle Pacific University: AC 2007-1362: WE CAN DO BETTER: A PROVEN, INTUITIVE, EFFICIENT AND PRACTICAL DESIGN-ORIENTED CIRCUIT ANALYSIS PARADIGM IS AVAILABLE, SO WHY AREN'T WE USING IT TO TEACH OUR STUDENTS?
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