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The Elements of Statistical Leaming Data Mining, Inference, and Prediction.
Semiconductor Physics and Devices Basic Principles Fourth Edition Donald A. Neamen University of New Mexico
Semiconductor Junctions, TU Delft
OCWの電子計測関連
Using the Impedance Analyzer
William Schockley Electrons and Holes in Semiconductor
Donald Peter, Seattle Pacific University: AC 2007-1362: WE CAN DO BETTER: A PROVEN, INTUITIVE, EFFICIENT AND PRACTICAL DESIGN-ORIENTED CIRCUIT ANALYSIS PARADIGM IS AVAILABLE, SO WHY AREN'T WE USING IT TO TEACH OUR STUDENTS?
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