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ティール/スモール パラメーターの歴史
The Elements of Statistical Leaming Data Mining, Inference, and Prediction.
Paul R. Gray, Paul J. Hurst, Stephen H. Lewis, Robert G. Meyer: Analysis And Design Of Analog Integrated Circuits
Semiconductor Junctions, TU Delft
2021年度秋学期 画像情報処理 第4回 フーリエ変換とサンプリング定理 (2021. 10. 15) 浅野 晃 (Akira Asano)
日本半導体歴史館
TINA-TITMによるオペアンプ回路設計入門 (第6回) 1.3.1 オペアンプの基礎
Using the Impedance Analyzer
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